JDG-S3立式光學(xué)計是一般是用標(biāo)準(zhǔn)器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀精密量具和零件的外形尺寸作精密測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，生產(chǎn)過程控制及在線測量等方面，對被測件作微小位移測量，及對非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測量。

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　　機械比較儀適用于測量工件的幾何尺寸和形位偏差，特別是檢定工件的跳動量，并可用比較法測量長度。比較儀儀校驗臺是機械比較儀用的校驗臺架，與量塊配合使用可測定比較儀的示值變動性等性能指標(biāo)。

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　　數(shù)字式立式光學(xué)計JDG-S1是一般是用標(biāo)準(zhǔn)器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀精密量具和零件的外形尺寸作精密測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，生產(chǎn)過程控制及在線測量等方面

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　　立式光學(xué)計LG-1是一采用量塊或標(biāo)準(zhǔn)零件與試件相比較的方式來測量物體外形尺寸的儀器.主要用于五等精度量塊,一級精度柱型規(guī)以及各種圓柱形、球形、線形等物體的直徑或板形物體的厚度的精密測量，亦可用來控制精密零件的加工。

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